SPRAWDŹ STATUS ZAMÓWIENIA
POMOC I KONTAKT
Ulubione
Kategorie

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Zarysy kształtu - Falistość Mikro- i nanochropowatość

O Akcji

Akcja Podziel się książką skupia się zarówno na najmłodszych, jak i tych najstarszych czytelnikach. W jej ramach możesz przekazać książkę oznaczoną ikoną prezentu na rzecz partnerów akcji, którymi zostali Fundacja Dr Clown oraz Centrum Zdrowego i Aktywnego Seniora. Akcja potrwa przez cały okres Świąt Bożego Narodzenia, aż do końca lutego 2023.
Dowiedz się więcej
  • Promocja
    image-promocja

książka

Wydawnictwo Wydawnictwo Naukowe PWN
Data wydania 2023
Oprawa miękka
Liczba stron 436
  • Wysyłamy w 2 - 3 dni + czas dostawy Ten produkt może nie dotrzeć do Ciebie przed Świętami!
  • DPD za 5,99

Opis produktu:

Przedstawiamy wyjątkową publikację kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora ? profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.
Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

Produkt wprowadzony do obrotu na terenie UE przed 13.12.2024

S
Szczegóły
Dział: Książki
Kategoria: Nauki ścisłe,  Popularnonaukowe
Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN
Wydawnictwo - adres:
recepcja@pwn.pl , http://www.pwn.pl , 02-460 , ul. G. Daimlera 2 , Warszawa , PL
Oprawa: miękka
Okładka: miękka
Rok publikacji: 2023
Wymiary: 165x235
Liczba stron: 436
ISBN: 9788301231583
Wprowadzono: 14.11.2023

RECENZJE - książki - Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Zarysy kształtu - Falistość Mikro- i nanochropowatość - Stanisław Adamczak

Zaloguj się i napisz recenzję - co tydzień do wygrania kod wart 50 zł, darmowa dostawa i punkty Klienta.

0/5 ( brak ocen )
  • 5
  • 4
  • 3
  • 2
  • 1

Wpisz swoje imię lub nick:
Oceń produkt:
Napisz oryginalną recenzję: